• 自動晶粒測試分類機

     軟體基本功能介紹

    圖片1 55e6a* 參數設定
    * 影像設定
    * 自動運行
    * 停止運行
    * 系統IO
    * 系統登入
    * 系統登出
    * 歷史紀錄
    * 結束程式
    * 料號批號
    * IC數量即時同步顯示
    * 測試頭A即時影像
    * 測試頭B即時影像
    * 晶粒分類顯示
    * 資料清除
    * 手動操作功能
    * 空盤彈夾更換
    * 測試彈夾更換
    * 軌道清盤
    * 待機位置
    * 原點復歸


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